ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀

ICP-MS分析技術在半導體高純材料分析中的應用

發(fā)布日期:2021-09-17  點擊次數(shù):

            關鍵詞: 半導體;高純材料; 質(zhì)譜;雜質(zhì)分析;美析儀器:antak.com.cn;ICP-MS6880


  電感耦合等離子體質(zhì)譜分析法是將電感耦等離子體(ICP)技術和質(zhì)譜(MS)技術結(jié)合起來, 利用等離子體作為離子源,由接口將等離子體中被 電離了的試樣離子引入質(zhì)譜儀,用質(zhì)譜儀對離子進行質(zhì)量分析(按m/Z比值將不同的離子分開)并檢測記錄,根據(jù)所得質(zhì)譜圖進行定性定量分析。
  具有以下幾個優(yōu)點:
  (1)靈敏度高:ICP-MS6880儀器的靈敏度一般高出lCP-AES一到兩個數(shù)量級,從而對多數(shù)元素能達 到更低的檢出限:
  (2)動態(tài)線性范圍寬:
  (3)可多元素同時分析;
  (4)分析速度快,單個樣品一般在幾秒鐘內(nèi)完成:
  (5)分析元素范圍廣,能分析元素周期表中除碳、氫、氧外的絕大多數(shù)元素. 正因為這些優(yōu)點,使ICP-MS6880分析技術廣泛應 用于半導體工業(yè)用高純材料的痕量雜質(zhì)分析中.
  主要進行的高純材料分析
  1. IC硅片表面雜質(zhì)分析
  2. 光伏多晶硅、單晶硅雜質(zhì)分析
  3. 三氯氫硅、四氯化硅: ICP.MS法測定高純四氯化硅中們、V、cr、‘ Co、Ni、Cu、Pb、Zn、Mn九種金屬元素.
  4. 超凈贏純試劑分析:括氫氟酸、硝酸、硫酸、鹽酸、氨水、雙氧水等超純無機試劑,和異丙醇(IP:A)、丙酮、四甲基氫氧化銨(TMAH),N.甲基丙絡烷酮 (NMP)、丙二醇甲基醚乙酯(PGMEA)等超純有機試劑
  5. 超純水分析
  6. 高純氣體分析